Přesná optika
a jemná mechanika

Přesná optika
a jemná mechanika
Optická kontrola,
optická analýza, měření
Analýza vad výrobků,
OK - NOK
10 let
na trhu
Kamery, objektivy,
optika na míru
Výpočty
a simulace
Robotické
navádění
Machine
vision
3D měření
3D scanner
Konstrukce
optiky

Již 10 let vyrábíme stroje a zařízení na míru v oblasti přesné mechaniky a optiky. Díky úzkému navázání na univerzity, na kterých naši zaměstnanci stále aktivně působí, máme přístup k nejnovějším informacím v oboru.

Cílové segmenty

Automotive
Aerospace
Biotechnologie
Vědecké ústavy

Produkty a služby

Optická kontrola a měření
Automatizace
Jednoúčelová zařízení
Design a konstrukce
Výpočty a simulace
Tvorba software

Novinky

Návrh interferometru z uhlíkových kompozitů

20. 12. 2017
Interferometr má sloužit k měření teplotní délkové roztažností profilů z kompozitních materiálů s malou teplotní dilatací. Přístroj je založen na principu Michelsonova interferometru s laserovým světelným zdrojem. Kvůli potlačení teplotních závislostí v samotném přístroji je jako hlavní stavební materiál použit uhlíkový kompozit. Zařízení je vyvíjeno pro Ústav fyzikální biologie Jihočeské university v Českých Budějovicích ve spolupráci s…

Uvolnění XAnn3D Free Edition

10. 12. 2017
Byla uvolněna omezená verze XAnn3D – softwaru pro simulace rentgenové optiky a to pro nekomerční využití a testy. Jedná se o technologický demonstrátor software pro simulaci, optimalizaci a obecně raytracing rentgenových optik (zrcadel) se širokými možnostmi rozšiřování funkcionality. Jeho účelem je ověření technologií pro budoucí vývojové práce (zejména numeriky a fyziky, konceptů práce s modelem či skriptování)….

Zpracování metrologických dat při výrobě přesných voštinových desek

20. 11. 2017
Zpracování metrologických dat a jejich visualizace při vývoji a přípravě forem pro výrobu přesných velkorozměrných voštinových desek ve firmě 5M s.r.o. Je vyžadována vysoká přesnost výroby a neustálá kontrola tvaru mandrelů a to v řádu 10 μm (RMS) při rozměrech mandrelu cca 1,5 x 1,5 m. Je třeba počítat se systematickými chybami měřícího procesu a provádět…